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Quels outils pour la traçabilité et la connaissance des expositions ? / Nanolille 2017
10/03/2017 11:00 | Durée 00:52:22

Intervenants : Nicolas Feltin , Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE) .   Eric Juet , Centre d’excellence Jean Monnet, Rennes .   Aurélie Niaudet , Anses .   Emilie Tafournel , Fédération du Commerce et de la grande distribution (FCD) .  

Table-ronde – Quels outils pour la traçabilité et la connaissance des expositions ? Animateur : Jean-Jacques Perrier, NanoRESP. Aurélie Niaudet, Anses. Eric Juet, Centre d’excellence Jean Monnet, Rennes. Nicolas Feltin, Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE). Emilie Tafournel, Fédération du Commerce et de la grande distribution (FCD).