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Allocutions des personnalités.
19/09/2005 12:00 | Durée 00:32:03

Intervenants : Jean Aribaud , Préfet de la région Nord-Pas de Calais .   Hervé Baussart , Professeur d'énergétique et de génie des procédés, ancien président de l’Université de Lille1 .   Jean-Marc Lefebvre , Directeur de la Fédération de Recherche Michel Eugène Chevreul .   John Ludden , Directeur Scientifique adjoint du département des sciences de l’univers du Centre National de la Recherche Scientifique (C.N.R.S.) .   Daniel Percheron , Sénateur du Pas-de-Calais, président du Conseil régional Nord-Pas de Calais .  

Le Centre Commun de Microscopie (CCM) de l'Université Lille 1, plateau technique de la Fédération Chevreul (CNRS FR 2638), regroupe une grande partie des moyens en microscopie électronique de l'USTL. Depuis 1998, le Centre bénéficie du label « Instrument National » (INSU/CNRS) en Sciences de la Terre pour la microscopie électronique en transmission. Le CCM de l'Université Lille 1 regroupe une grande partie des moyens en microscopie de l'université. L'activité des laboratoires partenaires se situe dans les domaines de la Science des matériaux, de la Métallurgie, de la Chimie/Physique du solide et de la Géologie. Depuis 1998, le CCM a le statut d’Instrument National en Microscopie Electronique de l’Institut National des Sciences de l’Univers (INSU/ CNRS). Depuis sa création au début des années 1990, le CCM a acquis une solide réputation nationale et internationale en diffraction électronique, et organise chaque année une formation dans ce domaine. Le Centre a su par ailleurs développer de nombreux partenariats avec des entreprises locales, nationales et internationales. Il assure enfin un service de formation des nouveaux utilisateurs, et de prestations (d’expertises) auprès des laboratoires et entreprises pour les travaux limités dans le temps. La caractéristique essentielle du CCM est de développer les aspects QUANTITATIFS de la microscopie électronique dans les domaines suivants : • La micro(nano)-analyse chimique quantitative par spectrométrie en dispersion d'énergie X (EDS), avec une bonne détection des éléments légers • L'imagerie et la diffraction électronique en transmission (faisceau parallèle ou convergent) conventionnelles et/ou quantitatives (images filtrées, précession électronique). • L’analyse en spectroscopie de perte d’énergie d’électron (EELS) • La tomographie électronique avec reconstruction 3D, en contraste d’absorption ou composition (perte d'énergie) • La cathodoluminescence et la méthode EBIC • L'imagerie haute résolution en MEB-FEG (particulièrement à basse tension - 500V)